Műszer
Raman (DXR) spektrométer
TUDOMÁNYÁGAK
A MŰSZER AZ ALÁBBI SZERVEZETI EGYSÉGHEZ TARTOZIK
MŰSZER ÁLLAPOTA
Korának megfelelő
MŰSZERREL KAPCSOLATOS INFORMÁCIÓK
Jellemzők
- Folyékony és szilárd halmazállapotú anyagok, egyedi szemcsék vizsgálata (mikroszkóp, videokamera)
- Mélységi profil készítése (bevonatok, filmek, rétegek vizsgálata)
- 1 µm x-y irányú felbontás és 2 µm mélységi felbontás (-90ºC - +300ºC)
- Valós idejű információ a kémiai szerkezetről; amorf és kristályos szerkezetek, polimorfia vizsgálata
- Kémiai térképezés: a minta felületi vagy mélységi (2D, 3D) vizsgálata – spektrális (anyagszerkezeti) információ, valamint információ az összetételről (x-y és x-z irányú térképek) (konfokális)
- Nem destruktív, nincs érintkezés a mintával, nem szükséges mintaelőkészítés, vizsgálat csomagoláson keresztül
- Száloptikai rendszer: mikroszkóp alatt nem vizsgálható folyamatok vizsgálata, mélységi profilozás, reakciókövetés, kinetika felvétele (bőr)
Alkalmazási területek
- Gyógyszerészet – azonosítás és mennyiségi meghatározás, technológiai folyamatok tervezése, optimálása
- Bevonatvastagság, szerkezet meghatározása
- Bevont készítmény / mikrokapszula gyártástechnológia elemzése (pl. bevonás lépéseinek utólagos felderítése, igazolása), összetétel és gyártástechnológia felderítése
- Gyártási paraméterek hatásának megállapítása, hibaanalízis, végellenőrzés, nagyhatékonyságú termékelemzés
- Igazságügyi / bűnügyi– nyomelemzés, illegális drogok azonosítása, hamisított gyógyszerek vizsgálata
- Restaurálás – festék, pigment, gyanta, máz azonosítása és vizsgálata
- Régészet - Archaeology–characterize horn, shell, bone, and ceramic artifacts
- Solar–Silicon crystallinity; characterization of photovoltaic materials
- Polymers–inclusions and gel defects, weathering effects, tie layers in laminates, and crystallinity
- Anyagtudomány, kőzet, ásvány, drágakő vizsgálata
- Szövet, szövettenyészet, sejtkultúra térképezése, kémiai anyagok, sejtalkotók azonosítása
- Növényi alkaloidok eloszlása levelekben és kivonatokban
- Validálás
- DQ/IQ/OQ/PQ dokumentáció
- Omnic D/S software
- 21 CFR Part 11
KAPCSOLAT
Dr. Sipos Péter