Műszer

Raman (DXR) spektrométer


TUDOMÁNYÁGAK

A MŰSZER AZ ALÁBBI SZERVEZETI EGYSÉGHEZ TARTOZIK

MŰSZER ÁLLAPOTA

Korának megfelelő

MŰSZERREL KAPCSOLATOS INFORMÁCIÓK

 

Jellemzők

  • Folyékony és szilárd halmazállapotú anyagok, egyedi szemcsék vizsgálata (mikroszkóp, videokamera)
  • Mélységi profil készítése (bevonatok, filmek, rétegek vizsgálata)
  • 1 µm x-y irányú felbontás és 2 µm mélységi felbontás (-90ºC - +300ºC)
  • Valós idejű információ a kémiai szerkezetről; amorf és kristályos szerkezetek, polimorfia vizsgálata
  • Kémiai térképezés: a minta felületi vagy mélységi (2D, 3D) vizsgálata – spektrális (anyagszerkezeti) információ, valamint információ az összetételről (x-y és x-z irányú térképek) (konfokális)
  • Nem destruktív, nincs érintkezés a mintával, nem szükséges mintaelőkészítés, vizsgálat csomagoláson keresztül
  • Száloptikai rendszer: mikroszkóp alatt nem vizsgálható folyamatok vizsgálata, mélységi profilozás, reakciókövetés, kinetika felvétele (bőr)

 

Alkalmazási területek

  • Gyógyszerészet – azonosítás és mennyiségi meghatározás, technológiai folyamatok tervezése, optimálása
  • Bevonatvastagság, szerkezet meghatározása
  • Bevont készítmény / mikrokapszula gyártástechnológia elemzése (pl. bevonás lépéseinek utólagos felderítése, igazolása), összetétel és gyártástechnológia felderítése
  • Gyártási paraméterek hatásának megállapítása, hibaanalízis, végellenőrzés, nagyhatékonyságú termékelemzés
  • Igazságügyi / bűnügyi– nyomelemzés, illegális drogok azonosítása, hamisított gyógyszerek vizsgálata
  • Restaurálás – festék, pigment, gyanta, máz azonosítása és vizsgálata
  • Régészet - Archaeology–characterize horn, shell, bone, and ceramic artifacts
  • Solar–Silicon crystallinity; characterization of photovoltaic materials
  • Polymers–inclusions and gel defects, weathering effects, tie layers in laminates, and crystallinity
  • Anyagtudomány, kőzet, ásvány, drágakő vizsgálata
  • Szövet, szövettenyészet, sejtkultúra térképezése, kémiai anyagok, sejtalkotók azonosítása
  • Növényi alkaloidok eloszlása levelekben és kivonatokban
  • Validálás

 

  • DQ/IQ/OQ/PQ dokumentáció
  • Omnic D/S software
  • 21 CFR Part 11

KAPCSOLAT

Dr. Sipos Péter