Műszer
PSIA XE 100 (Optikai és Kvantumelektronikai Tanszékkel közös műszer)
TUDOMÁNYÁGAK
A MŰSZER AZ ALÁBBI SZERVEZETI EGYSÉGHEZ TARTOZIK
MŰSZER ÁLLAPOTA
Korának megfelelő
MŰSZERREL KAPCSOLATOS INFORMÁCIÓK
Az Optikai és Kvantumelektronikai Tanszékkel közös műszer. Az atomi erő mikroszkóp (AFM) a pásztázószondás mikroszkópia családjába tartozik. A készülékkel nanométeres felbontású képek nyerhetők levegőben és vizes közegekben. A kontakt módú felvétel során lehetőség van a topográfiai, a hibajel és a súrlódási képek egyidejű rögzítésére. A rezgetett üzemmód
lehetővé teszi érzékeny biológiai minták vizsgálatát, itt a topográfiai és a hibajel képek mellett a szonda rezgéseinek és a kényszer fáziskülönbség képe is előállítható, amely az anyagi minőség különbségekre is információval szolgálhat. A készülékkel maximum 50 mikrométer x 50 mikrométer felület pásztázható. A maximális magasságkülönbség 10 mikrométer.